ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Обозначение:ГОСТ Р 8.697-2010
Статус документа:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата издания:19.04.2010
Дата введения:31.08.2010
Дата последнего изменения:16.01.2015
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010