ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

ГОСТ 8.171-75

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

Обозначение:ГОСТ 8.171-75
Статус документа:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Название англ.:State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications
Дата издания:10.11.1975
Дата введения:01.01.1977
Дата последнего изменения:16.01.2015
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв
Список изменений:№1 от 01.03.1981 (рег. 31.10.1980) «Срок действия продлен»
№2 от 01.07.1987 (рег. 29.12.1986) «Срок действия продлен»
№3 от 01.01.1992 (рег. 26.06.1991) «Срок действия продлен»
ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75ГОСТ 8.171-75